石英晶体微天平

        该设备通过石英晶体的检测频率和耗散,可以有效的分析芯片表面吸附的分子层状态、质量、厚度和粘弹性等性质。检测过程中无须对检测分子进行标记,适用于任何能形成薄膜的表面,如金属、高分子、化学改性表面等。石英晶体微天平在生物、医学和表面科学等研究领域被广泛应用。

 E4-B

仪器名称  石英晶体微天平
仪器型号 E4
生产厂家 英国Biolin公司 
技术参数 可检测粒径检测范围:0.6 nm- 10µm;
测量浓度范围:0.1 ppm;
具备四个样品检测池;
精确度可达0.5 ng/cm2。

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